Titel in Übersetzung | Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper |
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Originalsprache | Englisch |
Titel | Microscopy Conference, International Forum for Advanced Microscopy |
Seiten | 100-101 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2007 |
Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper
Daniel Kiener, Thomas Jörg, Martin Rester, Christian Motz, Gerhard Dehm
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