Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper

Titel in Übersetzung: Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper

Daniel Kiener, Thomas Jörg, Martin Rester, Christian Motz, Gerhard Dehm

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

Titel in ÜbersetzungConventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper
OriginalspracheEnglisch
TitelMicroscopy Conference, International Forum for Advanced Microscopy
Seiten100-101
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

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