Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate

Titel in Übersetzung: Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate

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2 Zitate (Scopus)

Titel in Übersetzung	Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Originalsprache	Englisch
Titel	Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), 2013 IEEE International
Seiten	133-136
DOIs	https://doi.org/10.1109/IIRW.2013.6804177
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2013

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@inproceedings{b1241c0559ae4f76bac82c4b76215b6c,

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author = "R.A. Coppeta and H Ceric and David Holec and T. Grasser",

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