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Development of crystallinity and morphology in hafnium dioxide thin films grown by Atomic Layer Epitaxy

  • M. Ritala
  • , M. Leskelä
  • , L. Niinistö
  • , Thomas Prohaska
  • , Gernot Friedbacher
  • , Manfred Grasserbauer
  • Universität Helsinki
  • Technische Universität Wien

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

187 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)72-80
Seitenumfang9
FachzeitschriftThin solid films
Jahrgang250.1994
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1994
Extern publiziertJa

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