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Diffusion in the Cu/TiN thin film system studied by atom probe tomography correlated with transmission electron microscopy and first-principles calculations

  • Linköping University

Publikation: KonferenzbeitragVortragForschungBegutachtung

Suchergebnisse

  • European APT Workshop

    Mühlbacher, M. (Redner/-in)

    7 Okt. 2015

    Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer VeranstaltungKonferenzteilnahme