Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

Titel in Übersetzung: Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

Quan Shen, Gregor Hlawacek, Heinz-Georg Flesch, Thomas Potocar, Roland Resel, Adolf Winkler, Christian Teichert

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in Übersetzung	Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Innsbruck, Austria Dauer: 2 Sept. 2009 → 4 Sept. 2009

Konferenz	59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
Ort	Innsbruck, Austria
Zeitraum	2/09/09 → 4/09/09

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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy. / Shen, Quan; Hlawacek, Gregor; Flesch, Heinz-Georg et al.
2009. Postersitzung präsentiert bei 59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft, Innsbruck, Austria.

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

TY - CONF

T1 - Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

AU - Shen, Quan

AU - Hlawacek, Gregor

AU - Flesch, Heinz-Georg

AU - Potocar, Thomas

AU - Resel, Roland

AU - Winkler, Adolf

AU - Teichert, Christian

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Poster

T2 - 59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft

Y2 - 2 September 2009 through 4 September 2009

ER -