Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films

Titel in Übersetzung: Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films

Richard Rachbauer, David Holec, Lattemann Martina, Hultman Lars, Paul Heinz Mayrhofer

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

33 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungElectronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
Veranstaltung18th Interdisciplinary Surface Science Conference - Warwick, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 4 Apr. 20117 Apr. 2011

Konferenz

Konferenz18th Interdisciplinary Surface Science Conference
KurztitelISSC-18
Land/GebietGroßbritannien / Vereinigtes Königreich
OrtWarwick
Zeitraum4/04/117/04/11

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