Enhanced Ti0.84Ta0.16N diffusion barriers, grown by a hybrid sputtering technique with no substrate heating, between Si (001) wafers and Cu overlayers

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

17 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1-9
FachzeitschriftScientific reports (London : Nature Publishing Group)
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PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018

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