High resolution determination of local residual stress gradients in single- and multilayer thin film systems

Ruth Treml, Darian Kozic, Johannes Zechner, Xavier Maeder, Hans-Peter Gänser, Ronald Schöngrundner, Johann Michler, Roland Brunner, Daniel Kiener

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

43 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)616-623
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang103
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016

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