In-Situ compression tests on micron-sized copper pillars

Titel in Übersetzung: In-Situ compression tests on micron-sized copper pillars

Daniel Kiener, Christian Motz, Gerhard Dehm

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungIn-Situ compression tests on micron-sized copper pillars
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006 - Waterville, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Juli 20064 Aug. 2006

Konferenz

KonferenzGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtWaterville
Zeitraum30/07/064/08/06

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