In-Situ Synchrotron Profile Analysis after High-Pressure Torsion Deformation

Michael Kerber, Florian Spieckermann, Roman Schuster, Bertalan Joni, Norbert Schell, Erhard Schafler

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

7 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer232
FachzeitschriftCrystals
Jahrgang9.2019
Ausgabenummer5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Mai 2019

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