Inspection of short surface cracks by inductive thermography and by computer tomography

B. Oswald-Tranta, A. Hackl, E. Gorostegui-Colinas, A. Muniategui Merino, Ph Westphal

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

OriginalspracheEnglisch
TitelThermosense
UntertitelThermal Infrared Applications XLVI
Redakteure/-innenFernando Lopez, Nicolas P. Avdelidis, Giovanni Ferrarini
Herausgeber (Verlag)SPIE
ISBN (elektronisch)9781510674127
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2024
VeranstaltungThermosense: Thermal Infrared Applications XLVI - National Harbor, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 22 Apr. 202425 Apr. 2024

Publikationsreihe

NameProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Band13047
ISSN (Print)0277-786X
ISSN (elektronisch)1996-756X

Konferenz

KonferenzThermosense: Thermal Infrared Applications XLVI
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtNational Harbor
Zeitraum22/04/2425/04/24

Bibliographische Notiz

Publisher Copyright:
© 2024 SPIE.

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