Laser Ultrasonic Thin Film Characterization of Si-Cu-Al-Cu Multi-Layered Stacks

Eva Grünwald; Robert Nuster; Günther Paltauf; Thomas Maier; Robert Wimmer-Teubenbacher; Ruth Konetschnik; Daniel Kiener; Verena Leitgeb; Anton Köck; Roland Brunner

doi:10.1016/j.matpr.2017.08.006

Laser Ultrasonic Thin Film Characterization of Si-Cu-Al-Cu Multi-Layered Stacks

Eva Grünwald, Robert Nuster, Günther Paltauf, Thomas Maier, Robert Wimmer-Teubenbacher, Ruth Konetschnik, Daniel Kiener, Verena Leitgeb, Anton Köck, Roland Brunner

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	7122-7127
Seitenumfang	6
Fachzeitschrift	Materials Today: Proceedings
Jahrgang	4.2017
Ausgabenummer	7, Part 2
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.matpr.2017.08.006
Publikationsstatus	Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung. - 19 Sept. 2017

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10.1016/j.matpr.2017.08.006

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T1 - Laser Ultrasonic Thin Film Characterization of Si-Cu-Al-Cu Multi-Layered Stacks

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