Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)

Christian Teichert, Sascha Kremmer

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Titel in ÜbersetzungLeitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)
OriginalspracheDeutsch
TitelHandbuch der Nanoanalytik
Seiten50-51
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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