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Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)

  • Christian Teichert
  • , Sascha Kremmer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Buch/SammelbandForschung

Titel in ÜbersetzungLeitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)
OriginalspracheDeutsch
TitelHandbuch der Nanoanalytik
Seiten50-51
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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