Long-term stability of the IT-SOFC cathode material La2NiO4+δ against chromium and silicon poisoning

Nina Schrödl, Andreas Egger, Werner Sitte, Patrice Kreiml, Christian Teichert, Till Höschen, Christian Gspan

Publikation: KonferenzbeitragVortragForschungBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 23 Sept. 2015

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