Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers and thin layers on SiO2

Titel in Übersetzung: Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers and thin layers on SiO2

Quan Shen, Nurdogan Gürkan, Gregor Hlawacek, Christian Teichert, Alexandra Lex, Georg Trimmel, Wolfgang Kern, Peter Pacher, Egbert Zojer

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungMorphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers and thin layers on SiO2
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
VeranstaltungNFN Winter School on Organic Electronics 2008 Planneralm - Planneralm, Donnersbach, Österreich
Dauer: 26 Jan. 200831 Jan. 2008

Konferenz

KonferenzNFN Winter School on Organic Electronics 2008 Planneralm
Land/GebietÖsterreich
OrtDonnersbach
Zeitraum26/01/0831/01/08

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