Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

Quan Shen; Gregor Hlawacek; Christian Teichert; Alexandra Lex; Christian Slugovc; Georg Trimmel; Peter Pacher; Veronika Proschek; Egbert Zojer

Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

Titel in Übersetzung: Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

Quan Shen
, Gregor Hlawacek
, Christian Teichert
, Alexandra Lex
, Christian Slugovc
, Georg Trimmel
, Peter Pacher
, Veronika Proschek
, Egbert Zojer

Lehrstuhl für Physik (460)

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in Übersetzung	Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2
Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2006
Veranstaltung	56. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Graz, Österreich Dauer: 18 Sept. 2006 → 21 Sept. 2006

Konferenz

Konferenz	56. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
Land/Gebiet	Österreich
Ort	Graz
Zeitraum	18/09/06 → 21/09/06

Dieses zitieren

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TY - CONF

T1 - Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2

AU - Shen, Quan

AU - Hlawacek, Gregor

AU - Teichert, Christian

AU - Lex, Alexandra

AU - Slugovc, Christian

AU - Trimmel, Georg

AU - Pacher, Peter

AU - Proschek, Veronika

AU - Zojer, Egbert

PY - 2006

Y1 - 2006

M3 - Poster

T2 - 56. Jahrestagung der Österreichischen PPhysikalischen Gesellschaft

Y2 - 18 September 2006 through 21 September 2006

ER -