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Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy

Titel in Übersetzung: Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy
  • Sascha Kremmer
  • , Harald Wurmbauer
  • , Andrei Andreev
  • , Christian Teichert
  • , G. Tallarida
  • , S. Spiga
  • , C. Wiemer
  • , M. Fanciulli

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungNano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
Veranstaltung14th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics - Mauterndorf, Österreich
Dauer: 13 Feb. 200617 Feb. 2006

Konferenz

Konferenz14th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics
Land/GebietÖsterreich
OrtMauterndorf
Zeitraum13/02/0617/02/06

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