| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten | 1593-1598 |
| Seitenumfang | 6 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2003 |
| Extern publiziert | Ja |
| Veranstaltung | Proceedings of the 20th IEEE Information and Measurement Technology Conference - Vail, CO, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 20 Mai 2003 → 22 Mai 2003 |
Konferenz
| Konferenz | Proceedings of the 20th IEEE Information and Measurement Technology Conference |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | Vail, CO |
| Zeitraum | 20/05/03 → 22/05/03 |
Dieses zitieren
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver