| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 148-155 |
| Fachzeitschrift | Microelectronics Reliability |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2016 |
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Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 148-155 |
| Fachzeitschrift | Microelectronics Reliability |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2016 |