Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy

Thomas Prohaska, D. Chang

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

5 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)349-352
Fachzeitschrift Journal of porous materials
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2000

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