Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 349-352 |
Fachzeitschrift | Journal of porous materials |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2000 |
Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy
Thomas Prohaska, D. Chang
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)