Patterned Photoreactive Surface Layers Characterized by Friction Force Microscopy and Conductive Atomic-Force Microscopy

Titel in Übersetzung: Patterned Photoreactive Surface Layers Characterized by Friction Force Microscopy and Conductive Atomic-Force Microscopy

Quan Shen, Andreas Pavitschitz, Gregor Hlawacek, Christian Teichert, Matthias Edler, Simone Radl, Thomas Grießer, Alexandra Lex, Thomas Höfler, Georg Trimmel, Wolfgang Kern

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungPatterned Photoreactive Surface Layers Characterized by Friction Force Microscopy and Conductive Atomic-Force Microscopy
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungMRS Spring Meeting 2011 - San Francisco, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 25 Apr. 201129 Apr. 2011

Konferenz

KonferenzMRS Spring Meeting 2011
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtSan Francisco
Zeitraum25/04/1129/04/11

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