| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten | 327-335 |
| Seitenumfang | 9 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2005 |
| Extern publiziert | Ja |
| Veranstaltung | Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV - Munich, Deutschland Dauer: 13 Juni 2005 → 17 Juni 2005 |
Konferenz
| Konferenz | Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV |
|---|---|
| Land/Gebiet | Deutschland |
| Ort | Munich |
| Zeitraum | 13/06/05 → 17/06/05 |
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