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Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer

Titel in Übersetzung: Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
  • Andrei I. Benediktovitch
  • , Tatjana Ulyanenkova
  • , Jozef Keckes
  • , Alex P. Ulyanenkov

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

5 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungSample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1931-938
FachzeitschriftJournal of applied crystallography
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

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