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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB

  • Christian Motz
  • , Daniel Kiener
  • , Thomas Schöberl
  • , Reinhard Pippan
  • , Gerhard Dehm

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung

Titel in ÜbersetzungSekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
OriginalspracheDeutsch
TitelHandbuch der Nanoanalytik
Seiten199-200
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005

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