Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015
Veranstaltung	7th Size & Strain - Oxford, Großbritannien / Vereinigtes Königreich Dauer: 21 Sept. 2015 → 24 Sept. 2015

Konferenz	7th Size & Strain
Land/Gebiet	Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Ort	Oxford
Zeitraum	21/09/15 → 24/09/15

Dieses zitieren

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title = "Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films",

author = "Julius Keckes and Mario Stefenelli and Juraj Todt and Christian Mitterer and Rostislav Daniel and Jozef Keckes",

year = "2015",

language = "English",

note = "7th Size \& Strain ; Conference date: 21-09-2015 Through 24-09-2015",

}