Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

T. Obermüller; M. Marchl; S.J. Ausserlechner; A. W. Golubkov; A. Haase; B. Stadlober; L. Hauser; G. Trimmel; Matthias Edler; Thomas Grießer; Wolfgang Kern; E. Zojer

Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

T. Obermüller, M. Marchl, S.J. Ausserlechner, A. W. Golubkov, A. Haase, B. Stadlober, L. Hauser, G. Trimmel, Matthias Edler, Thomas Grießer, Wolfgang Kern, E. Zojer

Lehrstuhl für Chemie der Kunststoffe (231)

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in Übersetzung	Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
Originalsprache	Deutsch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	International Conference on Organic Electronics 2009 - University of Liverpool, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich Dauer: 15 Juni 2009 → 17 Juni 2009

Konferenz

Konferenz	International Conference on Organic Electronics 2009
Land/Gebiet	Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Ort	Liverpool
Zeitraum	15/06/09 → 17/06/09

Dieses zitieren

Obermüller, T., Marchl, M., Ausserlechner, S. J., Golubkov, A. W., Haase, A., Stadlober, B., Hauser, L., Trimmel, G., Edler, M., Grießer, T., Kern, W., & Zojer, E. (2009). Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.

@conference{89d1023ab60d4a7080add1674ae8a8f9,

title = "Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors",

author = "T. Oberm{\"u}ller and M. Marchl and S.J. Ausserlechner and Golubkov, {A. W.} and A. Haase and B. Stadlober and L. Hauser and G. Trimmel and Matthias Edler and Thomas Grie{\ss}er and Wolfgang Kern and E. Zojer",

year = "2009",

language = "Deutsch",

note = "International Conference on Organic Electronics 2009 ; Conference date: 15-06-2009 Through 17-06-2009",

}

TY - CONF

T1 - Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

AU - Obermüller, T.

AU - Marchl, M.

AU - Ausserlechner, S.J.

AU - Golubkov, A. W.

AU - Haase, A.

AU - Stadlober, B.

AU - Hauser, L.

AU - Trimmel, G.

AU - Edler, Matthias

AU - Grießer, Thomas

AU - Kern, Wolfgang

AU - Zojer, E.

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Poster

T2 - International Conference on Organic Electronics 2009

Y2 - 15 June 2009 through 17 June 2009

ER -