Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

T. Obermüller; M. Marchl; S.J. Ausserlechner; A. W. Golubkov; A. Haase; B. Stadlober; L. Hauser; G. Trimmel; Matthias Edler; Thomas Grießer; Wolfgang Kern; E. Zojer

Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

T. Obermüller
, M. Marchl
, S.J. Ausserlechner
, A. W. Golubkov
, A. Haase
, B. Stadlober
, L. Hauser
, G. Trimmel
, Matthias Edler
, Thomas Grießer
, Wolfgang Kern
, E. Zojer

Lehrstuhl für Chemie der Kunststoffe (231)

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in Übersetzung	Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors
Originalsprache	Deutsch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	International Conference on Organic Electronics 2009 - University of Liverpool, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich Dauer: 15 Juni 2009 → 17 Juni 2009

Konferenz

Konferenz	International Conference on Organic Electronics 2009
Land/Gebiet	Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Ort	Liverpool
Zeitraum	15/06/09 → 17/06/09

Dieses zitieren

Obermüller, T., Marchl, M., Ausserlechner, S. J., Golubkov, A. W., Haase, A., Stadlober, B., Hauser, L., Trimmel, G., Edler, M., Grießer, T., Kern, W., & Zojer, E. (2009). Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Organic Electronics 2009, Liverpool, Großbritannien / Vereinigtes Königreich.

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TY - CONF

T1 - Temperature dependent bais-stress measurement in organic thin film Transistors

AU - Obermüller, T.

AU - Marchl, M.

AU - Ausserlechner, S.J.

AU - Golubkov, A. W.

AU - Haase, A.

AU - Stadlober, B.

AU - Hauser, L.

AU - Trimmel, G.

AU - Edler, Matthias

AU - Grießer, Thomas

AU - Kern, Wolfgang

AU - Zojer, E.

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Poster

T2 - International Conference on Organic Electronics 2009

Y2 - 15 June 2009 through 17 June 2009

ER -