Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm

Igor Beinik, Christian Teichert

Publikation: Buch/BerichtForschungsberichtTransferBegutachtung

Titel in ÜbersetzungTestmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
OriginalspracheDeutsch
VerlagUnknown Publisher
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011

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