Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction

Titel in Übersetzung: Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction

Petra Sonnweber-Ribic, P. Gruber, Gerhard Dehm, Eduard Arzt

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

1 Zitat (Scopus)
Titel in ÜbersetzungTexture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)765-766
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang55
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

Dieses zitieren