The contact charging of insulators by atomic force microscopy

Titel in Übersetzung: The contact charging of insulators by atomic force microscopy

Monika Mirkowska, Markus Kratzer, Christian Teichert, Helmut Flachberger

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in ÜbersetzungThe contact charging of insulators by atomic force microscopy
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
VeranstaltungÖPG Jahrestagung 2012 - Graz, Österreich
Dauer: 18 Okt. 2012 → 21 Okt. 2012

Konferenz

KonferenzÖPG Jahrestagung 2012
Land/GebietÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum18/10/12 → 21/10/12

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