Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 36-43 |
Seitenumfang | 8 |
Fachzeitschrift | Acta materialia |
Jahrgang | 126 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2017 |
The contribution of 180° domain wall motion to dielectric properties quantified from in situ X-ray diffraction
C. M. Fancher, S. Brewer, C. C. Chung, Sören Röhrig, T. Rojac, G. Esteves, Marco Deluca, N. Bassiri-Gharb, J. L. Jones
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)