The contribution of 180° domain wall motion to dielectric properties quantified from in situ X-ray diffraction

C. M. Fancher, S. Brewer, C. C. Chung, Sören Röhrig, T. Rojac, G. Esteves, Marco Deluca, N. Bassiri-Gharb, J. L. Jones

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

28 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)36-43
Seitenumfang8
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang126
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017

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