Thermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction

Titel in Übersetzung: Thermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction

Richard Rachbauer, S. Massl, Erich Stergar, J. Keckes, Paul Heinz Mayrhofer

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungThermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungInternational Workshop on In situ characterization of near-surface processes - Eisenerz, Österreich
Dauer: 30 Mai 20103 Juni 2010

Konferenz

KonferenzInternational Workshop on In situ characterization of near-surface processes
Land/GebietÖsterreich
OrtEisenerz
Zeitraum30/05/103/06/10

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