Transient phase fraction and dislocation density estimation from in-situ X-ray diffraction data with a low signal-to-noise ratio using a Bayesian approach to the Rietveld analysis

Manfred Wiessner, Paul Angerer, Sybrand van der Zwaag, Ernst Gamsjäger

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

1 Zitat (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer110860
Seitenumfang9
FachzeitschriftMaterials characterization
Jahrgang172.2021
AusgabenummerFebruary
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 25 Dez. 2020

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