Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

A. Etschmaier; Gregor Karl Mori; Wolfhard Wegscheider; H. Wieser

doi:10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

A. Etschmaier
, Gregor Karl Mori
, Wolfhard Wegscheider
, H. Wieser

Lehrstuhl für Allgemeine und Analytische Chemie (120)

Siemens AG, Regensburg

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung

2 Zitate (Scopus)

Abstract

Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

Titel in Übersetzung	On the mechanism of solders during the M-effect
Originalsprache	Deutsch
Seiten (von - bis)	90-98
Seitenumfang	9
Fachzeitschrift	Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Jahrgang	33.2002
Ausgabenummer	2
DOIs	https://doi.org/10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 22 Jan. 2002

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10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

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TY - JOUR

T1 - Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

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PY - 2002/1/22

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N2 - Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

AB - Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

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M3 - Artikel

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JO - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

JF - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

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