X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

M. Steffenelli; Rostislav Daniel; W Ecker; Daniel Kiener; Juraj Todt; A. Zeilinger; Christian Mitterer; M. Burghammer; Jozef Keckes

doi:10.1016/j.actamat.2014.11.011

X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

Titel in Übersetzung: X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

M. Steffenelli, Rostislav Daniel, W Ecker, Daniel Kiener, Juraj Todt, A. Zeilinger, Christian Mitterer, M. Burghammer, Jozef Keckes

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42 Zitate (Scopus)

Titel in Übersetzung	X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	24-31
Fachzeitschrift	Acta materialia
Jahrgang	85
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.actamat.2014.11.011
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015

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10.1016/j.actamat.2014.11.011

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TY - JOUR

T1 - X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

AU - Steffenelli, M.

AU - Daniel, Rostislav

AU - Ecker, W

AU - Kiener, Daniel

AU - Todt, Juraj

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AU - Burghammer, M.

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PY - 2015

Y1 - 2015

U2 - 10.1016/j.actamat.2014.11.011

DO - 10.1016/j.actamat.2014.11.011

M3 - Article

SN - 1359-6454

VL - 85

SP - 24

EP - 31

JO - Acta materialia

JF - Acta materialia

ER -