Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

A. Etschmaier; Gregor Karl Mori; Wolfhard Wegscheider; H. Wieser

doi:10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

Translated title of the contribution: On the mechanism of solders during the M-effect

A. Etschmaier
, Gregor Karl Mori
, Wolfhard Wegscheider
, H. Wieser

Chair of General and Analytical Chemistry (120)

Siemens AG, Regensburg

Research output: Contribution to journal › Article › Research › peer-review

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Abstract

Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

Translated title of the contribution	On the mechanism of solders during the M-effect
Original language	German
Pages (from-to)	90-98
Number of pages	9
Journal	Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Volume	33.2002
Issue number	2
DOIs	https://doi.org/10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R
Publication status	Published - 22 Jan 2002

Access to Document

10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

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author = "A. Etschmaier and Mori, \{Gregor Karl\} and Wolfhard Wegscheider and H. Wieser",

year = "2002",

month = jan,

day = "22",

doi = "10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R",

language = "Deutsch",

volume = "33.2002",

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journal = "Materialwissenschaft und Werkstofftechnik",

issn = "0933-5137",

publisher = "Wiley-VCH Verlag",

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}

TY - JOUR

T1 - Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

AU - Etschmaier, A.

AU - Mori, Gregor Karl

AU - Wegscheider, Wolfhard

AU - Wieser, H.

PY - 2002/1/22

Y1 - 2002/1/22

N2 - Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

AB - Das träge Abschaltverhalten von NH-Sicherungen (M-Effekt) wird durch einen Lotpunkt auf der Schmelzleiterplatine aus Kupfer sichergestellt. Es wurde zuerst die Wirkungsweise des derzeit verwendeten Lotes SnCd20 mittels Abschmelz-, Abschalt- und Glühversuchen charakterisiert. Im Anschluss daran wurden die alternativen Lotsysteme Zinn-Indium, Zinn-Wismut, Zinn-Wismut-Kupfer und Zinn-Indium-Kupfer untersucht. Die Legierung SnBiCu15-1 stellte sich dabei als einführbare Alternative zum toxischen Lot SnCd20 dar. Verhalten und Wirkungsweise der untersuchten Lote beim M-Effekt werden beschrieben.

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/0036002614

U2 - 10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

DO - 10.1002/1521-4052(200202)33:2<90::AID-MAWE90>3.0.CO;2-R

M3 - Artikel

AN - SCOPUS:0036002614

SN - 0933-5137

VL - 33.2002

SP - 90

EP - 98

JO - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

JF - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

IS - 2

ER -

Wirkungsweise von lotwerkstoffen beim M-effekt

Abstract

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