Review of scientific instruments, 0034-6748

Fachzeitschrift: Zeitschrift

ISSNs0034-6748

Publikationen

  1. 2020
  2. Veröffentlicht

    An SEM compatible plasma cell for in situ studies of hydrogen-material interaction

    Massone, A., Manhard, A., Jacob, W., Drexler, A., Ecker, W., Hohenwarter, A., Wurster, S. & Kiener, D., 1 Apr 2020, in: Review of scientific instruments. 91, 4, 043705.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. 2018
  4. Veröffentlicht

    A new device for high-temperature in situ GISAXS measurements

    Fritz-Popovski, G., Bodner, S. C., Sosada-Ludwikowska, F., Maier, G. A., Morak, R., Chitu, L., Bruegemann, L., Lange, J., Krane, H. G. & Paris, O., 5 Mär 2018, in: Review of scientific instruments. 89.2018, 3, 035103.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. 2017
  6. Veröffentlicht

    A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope

    Kreith, J., Strunz, T., Fantner, E. J., Fantner, G. E. & Cordill, M., 2017, in: Review of scientific instruments. 88, 5, 053704.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. 2014
  8. Veröffentlicht

    A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device

    Abboud, A., Kirchlechner, C., Send, S., Micha, J. S., Ulrich, O., Pashniak, N., Strüder, L. W. J., Keckes, J. & Pietsch, U., 2014, in: Review of scientific instruments. 85, S. 1139011-1139018

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. 2012
  10. Veröffentlicht

    Joint strength measurements of individual fiber-fiber bonds: An atomic force microscopy based method

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2012, in: Review of scientific instruments. S. 073902-1-073902-8

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Novel temperature dependent tensile test of freestanding copper thin film structures

    Smolka, M., Motz, C., Detzel, T., Robl, W., Grießer, T., Wimmer, A. C. & Dehm, G., 2012, in: Review of scientific instruments. Jun;(6), S. 064702/1-064702/9

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. 2010
  13. Veröffentlicht

    Imaging dislocations in gallium nitride across broad areas using atomic force microscopy

    Bennett, S. E., Holec, D., Kappers, M. J., Humphreys, C. J. & Oliver, R. A., 2010, in: Review of scientific instruments. S. 0637011-0637017

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  14. 2007
  15. Veröffentlicht

    High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method

    Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)