Harald Köstenbauer

(Ehemalig)

Publikationen

  1. 2021
  2. Veröffentlicht

    Galvanic corrosion of molybdenum alloys and oxides in contact with copper for thin film transistors using evans diagrams

    Riedl, J., Mori, G., Schmidt, H. & Köstenbauer, H., 2021, in: Digest of technical papers. 52, S2, S. 588-590 3 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzartikelForschung(peer-reviewed)

  3. 2019
  4. Veröffentlicht

    Correlation of mechanical damage and electrical behavior of Al/Mo bilayers subjected to bending

    Kreiml, P., Rausch, M., Terziyska, V. L., Köstenbauer, H., Winkler, J., Mitterer, C. & Cordill, M. J., 1 Okt 2019, in: Thin solid films. 687, 137480.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. 2014
  6. Veröffentlicht
  7. 2009
  8. Veröffentlicht

    Structure, stresses and stress relaxation of TiN/Ag nanocomposite films

    Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Mitterer, C., Hlawacek, G., Teichert, C. & Keckes, J., 2009, in: Journal of nanoscience and nanotechnology. 9, S. 3606-3610

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht
  10. 2008
  11. Veröffentlicht

    Fundamental investigations on stress engineering of sputtered hard coatings

    Köstenbauer, H., 2008, 113 S.

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und HabilitationsschriftenDissertation

  12. Veröffentlicht

    Intrinsic stresses and stress relaxation in TiN/Ag multilayer coatings during thermal cycling

    Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Keckes, J. & Mitterer, C., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 1920-1924

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  13. Veröffentlicht

    Tribological behavior of TiN/Ag nanocomposite coatings

    Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Tribology Letters. S. 53-60

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  14. 2007
  15. Veröffentlicht
  16. Veröffentlicht

    High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method

    Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

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