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Neuester Forschungsoutput
Ion irradiation-induced localized stress relaxation in W thin film revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction
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Indentation response of a superlattice thin film revealed by in-situ scanning X-ray nanodiffraction
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(peer-reviewed)
Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf
7
B
23
Si
22
C
6
N
40
ceramic film
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(peer-reviewed)
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