Yue Hou

(Ehemalig)

Publikationen

  1. 2010
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods

    Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  4. 2007
  5. Veröffentlicht

    Characterization of ZnO nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G. & Djutisic, A., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of vertical arrays of ZnO nanorod by AFM

    Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Brauer, G., Tam, K. H. & Djuricis, A., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 33281-185Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample 905041041Ksp

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN06-363

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample TN0648801

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on cross sectional PZT sample halt4714

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  13. Veröffentlicht

    Non-destructive characterization of vertical ZnO nanowire arrays by slow positron implantation spectroscopy, atomic force microscopy, and nuclear reaction analysis

    Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Skorupa, W., Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Tam, K. H. & Djurisic, A. B., 2007, in : Nanotechnology. 18, S. 195301-1-195301-8

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  14. Veröffentlicht

    Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy

    Hou, Y., 2007

    Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und HabilitationsschriftenDiplomarbeit

  15. 2006
  16. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  17. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  18. Veröffentlicht

    Characterization of semi-conducting nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  19. Veröffentlicht

    Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM

    Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  20. Veröffentlicht

    Detailed Investigation with conductive AFM on a cross sectional PZT sample

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  21. Veröffentlicht

    Investigation with conductive AFM of a cross sectional PZT reference sample

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  22. Veröffentlicht

    Measurements of I-V-characteristics on a cross-sectional PZT sample with conductive AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  23. Veröffentlicht

    Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates

    Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Hou, Y., Haber, T., Resel, R., Teichert, C., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2006, Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates. AIP, American Inst. of Physics, S. 328-328

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband