A novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Details

Titel in ÜbersetzungA novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)9-18
FachzeitschriftUltramicroscopy
Jahrgang144
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2014