Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy

Titel in Übersetzung: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy

Igor Beinik, Markus Kratzer, Astrid Wachauer, Lin Wang, Rainer Lechner, Christian Teichert, Christian Motz, W. Anwand, Gerhard Brauer, Xinyi Chen, Y. F. Hsu, A. Djuricis

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

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Titel in ÜbersetzungElectrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)052005-1-052005-7
FachzeitschriftJournal of applied physics
Jahrgang110
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011

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