Publikationen

  1. 2002
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in : Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. 2000
  5. Veröffentlicht

    Pattern formation in PbTe multilayer films

    Teichert, C., Jamnig, B. D. & Oswald, J., 2000, in : Surface Science. S. 823-826

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. 1999
  7. Veröffentlicht
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